ADI CMOS開關(guān):ATE系統(tǒng)中PhotoMOS的理想替代方案
隨著人工智能(AI)和高性能計(jì)算(HPC)對高帶寬內(nèi)存(HBM)需求的持續(xù)增長,存儲(chǔ)器芯片的設(shè)計(jì)復(fù)雜度不斷提升。作為確保這些先進(jìn)器件性能與良率的關(guān)鍵環(huán)節(jié),自動(dòng)測試設(shè)備(ATE)面臨前所未有的挑戰(zhàn)——不僅需要更高的測試精度、速度,還要求更強(qiáng)的并行處理能力...